THICKMAP
Dispositif de cartographie dimensionnelle optique de haute précision
Bénéfices
- Cartographie d’épaisseur
- Précision micrométrique
- Mesure sans contact
- Toute nature d’objet
Mots clefs
- Métrologie, mesure d’épaisseur
- Imagerie topologique
- Matériaux hétérogènes
Propriété Intellectuelle
- 1 brevet
Laboratoire
- LIPHY
Établissements
- CNRS
- UGA
Continuum Linksium
- Maturation
Contexte
Dans le domaine de la métrologie dimensionnelle, il n’existe actuellement pas de solution satisfaisante pour imager l’épaisseur d’objets fortement hétérogènes et potentiellement fragiles ou déformables avec une précision micrométrique.
Technologie
La technologie ThickMap repose sur l’utilisation de deux micro-faisceaux lasers coaxiaux positionnés de part et d’autre d’un objet et permettant une mesure locale de l’épaisseur, sans contact. L’objet peut ainsi être scanné entre les deux micro-faisceaux pour reconstruire une cartographie d’épaisseur.
Avantages
Le dispositif ThickMap permet une mesure d’épaisseur sans contact avec une précision micrométrique en mode imagerie avec une résolution latérale (taille du pixel) jusqu’à 10 µm. Ceci permet de mesurer notamment des objets fragiles ou déformables, hétérogènes, ou complexes (e.g. multi-composants).
Maturité
Un prototype a été développé et testé en laboratoire sur différents types d’objets et de matériaux avec des performances proches des valeurs cibles de 1 µm sur l’épaisseur et 10 µm sur la résolution latérale. Ce dispositif relativement modulaire, robuste et compact pourrait être implanté dans tout type d’environnement de travail exigeant. |
Applications
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On en parle dans le magazine
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